Effect of the physical structure on the recovery softness of PIN diodes: experimental and numerical analysis / Pasqualetti, M; Portesine, M; Scicolone, R; Zerbinati, B; Menozzi, Roberto; Bellini, A; Cova, Paolo. - 4:(1997), pp. 13-17. (Intervento presentato al convegno 7th IEEE European Conference on Power Electronics and Applications (EPE’97) tenutosi a Trondheim (Norwey) nel Sep. 8-10, 1997).
Effect of the physical structure on the recovery softness of PIN diodes: experimental and numerical analysis
MENOZZI, Roberto;COVA, Paolo
1997-01-01
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