Effect of the physical structure on the recovery softness of PIN diodes: experimental and numerical analysis / Pasqualetti, M., Portesine, M., Scicolone, R., Zerbinati, B., Menozzi, R., Bellini, A., Cova, P.. - 4:(1997), pp. 13-17. (7th IEEE European Conference on Power Electronics and Applications (EPE’97) Trondheim (Norwey) Sep. 8-10, 1997).
Effect of the physical structure on the recovery softness of PIN diodes: experimental and numerical analysis
MENOZZI, Roberto;COVA, Paolo
1997-01-01
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