Reliability and degradation of HEMTs and HBTs / Fantini, F; Cova, Paolo; Borgarino, M; Cattani, L; Menozzi, Roberto. - (1997), pp. 11-16. (Intervento presentato al convegno 21th European Workshop on Compound Semiconductors and Integrated Circuits, WOCSDICE’97 tenutosi a Scheveningen (The Netherlands) nel May 25-28, 1997).
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