Design and Simulation of a Test Pattern for Three-Dimensional Latch-up Analysis / DE MUNARI, Ilaria; Menozzi, Roberto; F., Fantini. - In: MICROELECTRONICS JOURNAL. - ISSN 0959-8324. - 24, No. 7:(1993), pp. 759-771. [10.1016/0026-2692(93)90021-6]
Design and Simulation of a Test Pattern for Three-Dimensional Latch-up Analysis
DE MUNARI, Ilaria;MENOZZI, Roberto;
1993-01-01
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