A Test Pattern For Three-Dimensional Latch-up Analysis / DE MUNARI, Ilaria; Menozzi, Roberto; M., Davoli; F., Fantini. - In: Microelectronic Test Structures, 1993. ICMTS 1993. Proceedings of the 1993 International Conference on. - STAMPA. - (1993), pp. 103-109. (Intervento presentato al convegno IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) tenutosi a Barcelona, Spain nel 22-25 March) [10.1109/ICMTS.1993.292886].
A Test Pattern For Three-Dimensional Latch-up Analysis
DE MUNARI, Ilaria;MENOZZI, Roberto;
1993-01-01
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