Space-charge analysis for the admittance of semiconductor junctions with deep impurity levels / Ghezzi, Carlo. - In: APPLIED PHYSICS. - ISSN 0340-3793. - A 26:(1981), pp. 191-302.

Space-charge analysis for the admittance of semiconductor junctions with deep impurity levels

GHEZZI, Carlo
1981-01-01

1981
Space-charge analysis for the admittance of semiconductor junctions with deep impurity levels / Ghezzi, Carlo. - In: APPLIED PHYSICS. - ISSN 0340-3793. - A 26:(1981), pp. 191-302.
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