Investigation of the structure of oxide layers on real GaAs surfaces using X-ray diffuse scattering / Ghezzi, Carlo; C., Bocchi; P., Franzosi. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 121:(1984), pp. 69-73.
Investigation of the structure of oxide layers on real GaAs surfaces using X-ray diffuse scattering
GHEZZI, Carlo;
1984-01-01
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