A study of microdefects in n-type doped GaAs crystals using cathodoluminescence and X-ray techniques / R., Fornari; P., Franzosi; G., Salviati; C., Ferrari; Ghezzi, Carlo. - In: JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH. - ISSN 0022-0248. - 72:(1985), pp. 717-725.
A study of microdefects in n-type doped GaAs crystals using cathodoluminescence and X-ray techniques
GHEZZI, Carlo
1985-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.