Use of spatially dependent electron capture to profile deep-level densities in Schottky barriers / E., Gombia; Ghezzi, Carlo; R., Mosca. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - 53:(1985), pp. 1285-1291.
Use of spatially dependent electron capture to profile deep-level densities in Schottky barriers
GHEZZI, Carlo;
1985-01-01
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