Reliability physics of compound semiconductor transistors for microwave applications / Borgarino, M.; Menozzi, Roberto; Dieci, D.; Cattani, L.; Fantini, F.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 41:(2001), pp. 21-30.
Reliability physics of compound semiconductor transistors for microwave applications
MENOZZI, Roberto;
2001-01-01
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