The correlation resistance for low-frequency noise compact modeling of Si/SiGe HBTs / Borgarino, M; Bary, L; Vescovi, D; Menozzi, Roberto; Monroy, A; Laurens, M; Plana, R; Fantini, F; Graffeuil, J.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 49:(2002), pp. 863-870.
The correlation resistance for low-frequency noise compact modeling of Si/SiGe HBTs
MENOZZI, Roberto;
2002-01-01
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