Reliability testing of InP HEMT's using electrical stress methods / VAN DER ZANDEN, K.; Schreurs, D.; Menozzi, Roberto; Borgarino, M.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 46:(1999), pp. 1570-1576.

Reliability testing of InP HEMT's using electrical stress methods

MENOZZI, Roberto;
1999-01-01

1999
Reliability testing of InP HEMT's using electrical stress methods / VAN DER ZANDEN, K.; Schreurs, D.; Menozzi, Roberto; Borgarino, M.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 46:(1999), pp. 1570-1576.
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