Hot electron effects on AlGaAs/GaAs power HFET's under off-state and on-state electrical stress conditions / Dieci, D.; Menozzi, Roberto; Lanzieri, C.; Polenta, L.; Canali, C.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 47:(2000), pp. 261-268.
Hot electron effects on AlGaAs/GaAs power HFET's under off-state and on-state electrical stress conditions
MENOZZI, Roberto;
2000-01-01
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