Study of the lattice strain relaxation in the Ga1-xAlxSb/GaSb system by X-ray topography and high resolution diffraction / Bocchi, C., Germini, F., Franchi, S., Baraldi, A., Gennari, S., Magnanini, R., Drigo, A.V.. - In: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE. MATERIALS IN ELECTRONICS. - ISSN 0957-4522. - 10:(1999), pp. 185-190.
Study of the lattice strain relaxation in the Ga1-xAlxSb/GaSb system by X-ray topography and high resolution diffraction
BARALDI, Andrea;
1999-01-01
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