Study of the lattice strain relaxation in the Ga1-xAlxSb/GaSb system by X-ray topography and high resolution diffraction / Bocchi, C.; Germini, F.; Franchi, S.; Baraldi, Andrea; Gennari, S; Magnanini, R.; Drigo, A. V.. - In: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE. MATERIALS IN ELECTRONICS. - ISSN 0957-4522. - 10:(1999), pp. 185-190.

Study of the lattice strain relaxation in the Ga1-xAlxSb/GaSb system by X-ray topography and high resolution diffraction

BARALDI, Andrea;
1999-01-01

1999
Study of the lattice strain relaxation in the Ga1-xAlxSb/GaSb system by X-ray topography and high resolution diffraction / Bocchi, C.; Germini, F.; Franchi, S.; Baraldi, Andrea; Gennari, S; Magnanini, R.; Drigo, A. V.. - In: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE. MATERIALS IN ELECTRONICS. - ISSN 0957-4522. - 10:(1999), pp. 185-190.
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