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AT-cut thickness-shear mode quartz crystal microbalance (QCM) sensors and resonant piezo-layer (RPL) sensors made by lead zirconate titanate (PZT) thick films were sensitized with cavitand coatings (Qx-Cav and Me-Cav) and exposed to organic vapors of environmental interest. Responses at different temperatures are compared. Effects due to the temperature dependence of the partition coefficient and the porosity of RPL sensors are also considered.
Investigation on Cavitand-Coated PZT Resonant Piezo-Layer and QCM Sensors at Different Temperatures Under Exposure to Organic Vapors / M., F., V., F., D., M., A., T., Suman, M., Dalcanale, E.. - In: SENSORS AND ACTUATORS. B, CHEMICAL. - ISSN 0925-4005. - 103:1-2(2004), pp. 240-246. [10.1016/j.snb.2004.04.077]
Investigation on Cavitand-Coated PZT Resonant Piezo-Layer and QCM Sensors at Different Temperatures Under Exposure to Organic Vapors
AT-cut thickness-shear mode quartz crystal microbalance (QCM) sensors and resonant piezo-layer (RPL) sensors made by lead zirconate titanate (PZT) thick films were sensitized with cavitand coatings (Qx-Cav and Me-Cav) and exposed to organic vapors of environmental interest. Responses at different temperatures are compared. Effects due to the temperature dependence of the partition coefficient and the porosity of RPL sensors are also considered.
Investigation on Cavitand-Coated PZT Resonant Piezo-Layer and QCM Sensors at Different Temperatures Under Exposure to Organic Vapors / M., F., V., F., D., M., A., T., Suman, M., Dalcanale, E.. - In: SENSORS AND ACTUATORS. B, CHEMICAL. - ISSN 0925-4005. - 103:1-2(2004), pp. 240-246. [10.1016/j.snb.2004.04.077]
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11381/1441083
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
