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Interpretation of life test results on DHBC InGaAs/InP laser diodes
1992-01-01 Chiorboli, Giovanni; Fantini, Fausto; M., Tesauri; M. C., Ronchini; F., Magistrali; D., Sala; Vanzi, Massimo
Simulation of Electromigration Phenomena and Associated Resistance Noise in Al-Cu Metallic Lines
2003-01-01 E., Alfinito; C., Pennetta; L., Reggiani; Fantini, Fausto; DE MUNARI, Ilaria; Scorzoni, Andrea
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Interpretation of life test results on DHBC InGaAs/InP laser diodes | 1-gen-1992 | Chiorboli, Giovanni; Fantini, Fausto; M., Tesauri; M. C., Ronchini; F., Magistrali; D., Sala; Vanzi, Massimo | |
Simulation of Electromigration Phenomena and Associated Resistance Noise in Al-Cu Metallic Lines | 1-gen-2003 | E., Alfinito; C., Pennetta; L., Reggiani; Fantini, Fausto; DE MUNARI, Ilaria; Scorzoni, Andrea |
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