In situ TEM study of phase transformation in oxide semiconductors / Zhang, J.; Liu, C. M.; Wouters, C.; Nofal, M.; Mazzolini, P.; Bierwagen, O.; Albrecht, M.. - In: NANO TODAY. - ISSN 1748-0132. - 63:(2025). [10.1016/j.nantod.2025.102766]
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