In situ TEM study of phase transformation in oxide semiconductors / Zhang, J., Liu, C.M., Wouters, C., Nofal, M., Mazzolini, P., Bierwagen, O., Albrecht, M.. - In: NANO TODAY. - ISSN 1748-0132. - 63:(2025). [10.1016/j.nantod.2025.102766]
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