Toward controllable Si-doping in oxide molecular beam epitaxy using a solid SiO source: Application to β-Ga2O3 / Ardenghi, A.; Bierwagen, O.; Falkenstein, A.; Hoffmann, G.; L??hnemann, J.; Martin, M.; Mazzolini, P.. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 121:4(2022), p. 042109. [10.1063/5.0087987]
Toward controllable Si-doping in oxide molecular beam epitaxy using a solid SiO source: Application to β-Ga2O3
P. Mazzolini
2022-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.