Active thermal control for reliability improvement of MOS-gated power devices / Soldati, Alessandro; Concari, Carlo; Dossena, Fabrizio; Barater, Davide; Iannuzzo, Francesco; Blaabjerg, Frede. - (2017), pp. 7935-7940. ((Intervento presentato al convegno IECON 2017 - 43rd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society [10.1109/IECON.2017.8217391].

Active thermal control for reliability improvement of MOS-gated power devices

Soldati, Alessandro
;
Concari, Carlo;Barater, Davide;
2017

978-1-5386-1127-2
Active thermal control for reliability improvement of MOS-gated power devices / Soldati, Alessandro; Concari, Carlo; Dossena, Fabrizio; Barater, Davide; Iannuzzo, Francesco; Blaabjerg, Frede. - (2017), pp. 7935-7940. ((Intervento presentato al convegno IECON 2017 - 43rd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society [10.1109/IECON.2017.8217391].
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