Active thermal control for reliability improvement of MOS-gated power devices / Soldati, Alessandro; Concari, Carlo; Dossena, Fabrizio; Barater, Davide; Iannuzzo, Francesco; Blaabjerg, Frede. - (2017), pp. 7935-7940. (Intervento presentato al convegno IECON 2017 - 43rd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society) [10.1109/IECON.2017.8217391].
Active thermal control for reliability improvement of MOS-gated power devices
Soldati, Alessandro
;Concari, Carlo;Barater, Davide;
2017-01-01
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