Active thermal control for reliability improvement of MOS-gated power devices / Soldati, Alessandro; Concari, Carlo; Dossena, Fabrizio; Barater, Davide; Iannuzzo, Francesco; Blaabjerg, Frede. - (2017), pp. 7935-7940. (Intervento presentato al convegno IECON 2017 - 43rd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society) [10.1109/IECON.2017.8217391].

Active thermal control for reliability improvement of MOS-gated power devices

Soldati, Alessandro
;
Concari, Carlo;Barater, Davide;
2017-01-01

2017
978-1-5386-1127-2
Active thermal control for reliability improvement of MOS-gated power devices / Soldati, Alessandro; Concari, Carlo; Dossena, Fabrizio; Barater, Davide; Iannuzzo, Francesco; Blaabjerg, Frede. - (2017), pp. 7935-7940. (Intervento presentato al convegno IECON 2017 - 43rd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society) [10.1109/IECON.2017.8217391].
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11381/2838981
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 5
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 5
social impact