Active thermal control for reliability improvement of MOS-gated power devices / Soldati, A., Concari, C., Dossena, F., Barater, D., Iannuzzo, F., Blaabjerg, F.. - (2017), pp. 7935-7940. (IECON 2017 - 43rd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society ) [10.1109/IECON.2017.8217391].
Active thermal control for reliability improvement of MOS-gated power devices
Soldati, Alessandro
;Concari, Carlo;Barater, Davide;
2017-01-01
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