Advanced Characterization of Clear Chip Seals / E., Pasquini; Bonati, Alice; Giuliani, Felice; F., Canestrari. - In: JOURNAL OF TESTING AND EVALUATION. - ISSN 0090-3973. - 42:5(2014). [10.1520/JTE20130119]
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.