Homogeneity of Fe-doped InP wafers using optical microprobes / L. F., Sanz; M. A., Gonzalez; M., Avella; A., Alvarez; J., Jimenez; Fornari, Roberto. - 258-2:(1997), pp. 825-829.

Homogeneity of Fe-doped InP wafers using optical microprobes

FORNARI, Roberto
1997-01-01

1997
Homogeneity of Fe-doped InP wafers using optical microprobes / L. F., Sanz; M. A., Gonzalez; M., Avella; A., Alvarez; J., Jimenez; Fornari, Roberto. - 258-2:(1997), pp. 825-829.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11381/2683907
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 2
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 1
social impact