Hot electron degradation in DC and RF characteristics of GaAs and InP HEMT / Menozzi, Roberto; M., Borgarino; Cova, Paolo; F., Fantini; A., Santarelli; G., Vannini. - (1996).
Hot electron degradation in DC and RF characteristics of GaAs and InP HEMT
MENOZZI, Roberto;COVA, Paolo;
1996-01-01
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