High-temperature crystallization and X-ray characterization of Y2SiO5, Y2Si2O7 and LaBSiO5 / N. I., Leonyuk; E. L., Belokoneva; G., Bocelli; Righi, Lara; E. V., Shvanskii; R. V., Henrykhson; N. V., Kulman; D. E., Kozhbakhteeva. - In: JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH. - ISSN 0022-0248. - 205:(1999), pp. 361-367. [10.1016/S0022-0248(99)00233-X]
High-temperature crystallization and X-ray characterization of Y2SiO5, Y2Si2O7 and LaBSiO5
RIGHI, Lara;
1999-01-01
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