Yield Enhancement by Multi-level Linear Modeling of Non-Idealities in an Interpolated Flash ADCA / Boni, Andrea; A., Pierazzi. - (1998), pp. 326-334. (Intervento presentato al convegno 1998 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems) [10.1109/DFTVS.1998.732182].
Yield Enhancement by Multi-level Linear Modeling of Non-Idealities in an Interpolated Flash ADCA.
BONI, Andrea;
1998-01-01
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