Observation of latch up phenomena in CMOS ICs by means of digital differential voltage contrast / F., Fantini; M., Vanzi; Morandi, Carlo; E., Zanoni. - In: IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS. - ISSN 0018-9200. - SC-21:(1986), pp. 169-174.

Observation of latch up phenomena in CMOS ICs by means of digital differential voltage contrast

MORANDI, Carlo;
1986-01-01

1986
Observation of latch up phenomena in CMOS ICs by means of digital differential voltage contrast / F., Fantini; M., Vanzi; Morandi, Carlo; E., Zanoni. - In: IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS. - ISSN 0018-9200. - SC-21:(1986), pp. 169-174.
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