IEEE standard for terminology and test methods for Analog-to-Digital Converters / S., Tilden; P., Green; W. T., Meyer; P., Arpaia; B. N. S., Babu; A., Belcher; D., Bergman; E., Blom; Chiorboli, Giovanni; P., Daponte; D., Hansen; F., Irons; D., Kien; D., Knierim; T., Linnenbrink; M., Solomon; Morandi, Carlo; B., Peterson; P. Y., Roy; J., Blair; W., Boyer; S., Broadstone; J., Deyst; R., Kromer; Y., Langard; N., Nahman; O. M., Solomon; T. M., Souders. - IEEE Std 1241-2000:(2001), pp. 1-98. [10.1109/IEEESTD.2001.92771]

IEEE standard for terminology and test methods for Analog-to-Digital Converters

CHIORBOLI, Giovanni;MORANDI, Carlo;
2001-01-01

2001
9780738127248
IEEE standard for terminology and test methods for Analog-to-Digital Converters / S., Tilden; P., Green; W. T., Meyer; P., Arpaia; B. N. S., Babu; A., Belcher; D., Bergman; E., Blom; Chiorboli, Giovanni; P., Daponte; D., Hansen; F., Irons; D., Kien; D., Knierim; T., Linnenbrink; M., Solomon; Morandi, Carlo; B., Peterson; P. Y., Roy; J., Blair; W., Boyer; S., Broadstone; J., Deyst; R., Kromer; Y., Langard; N., Nahman; O. M., Solomon; T. M., Souders. - IEEE Std 1241-2000:(2001), pp. 1-98. [10.1109/IEEESTD.2001.92771]
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11381/2303408
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact