Lifetime prediction and design of reliability tests for high power devices in automotive applications / M., C., F., C., Cova, P., W., F.. - IEEE 03CH37400:(2003), pp. 523-528. (41st IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS 2003) Dallas, Texas, USA 9 novembre 2003) [10.1109/RELPHY.2003.1197803].
Lifetime prediction and design of reliability tests for high power devices in automotive applications
COVA, Paolo;
2003-01-01
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