Characterization of Active Pixel Sensors fabricated in CMOS 0.18 μm technology / D., Passeri; A., Marras; D., Biagetti; P., Placidi; Delfanti, Paolo; L., Servoli; G. M., Bilei. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - 582:(2007), pp. 871-875.
Characterization of Active Pixel Sensors fabricated in CMOS 0.18 μm technology
DELFANTI, Paolo;
2007-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
