Degradation mechanisms in heterostructure devices and their correlations with defect / Fantini, F., Salviati, G., Borgarino, M., Cattani, L., Cova, P., Lazzarini, L., ZANOTTI FREGONARA, C.. - 160:(1997), pp. 503-514. (DRIP VII, 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors Templin (Germaniy) Sep. 7-10, 1997).
Degradation mechanisms in heterostructure devices and their correlations with defect
COVA, Paolo;
1997-01-01
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