Electromigration in Thin-Films for Microelectronics / G. L., Baldini; DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni; F., Fantini. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 33, No. 11/12:(1993), pp. 1779-1805. [10.1016/0026-2714(93)90086-E]
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