On the ASTM Electromigration Test Structure Applied to Al-1%Si/TiN/Ti Bamboo Metal Lines / DE MUNARI, Ilaria; M., Vanzi; A., Scorzoni; F., Fantini. - In: QUALITY AND RELIABILITY ENGINEERING INTERNATIONAL. - ISSN 0748-8017. - 11:(1995), pp. 33-39.
On the ASTM Electromigration Test Structure Applied to Al-1%Si/TiN/Ti Bamboo Metal Lines
DE MUNARI, Ilaria;
1995-01-01
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