Are High Resolution Resistometric Methods Really Useful for the Early Detection of Electromigration Damage / A., Scorzoni; S., Franceschini; R., Balboni; M., Impronta; DE MUNARI, Ilaria; F., Fantini. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 37, No. 10/11:(1997), pp. 1479-1482. [10.1016/S0026-2714(97)00090-5]
Are High Resolution Resistometric Methods Really Useful for the Early Detection of Electromigration Damage
DE MUNARI, Ilaria;
1997-01-01
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