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Thermal Stability of Al/Ni gate AlGaAs/GaAs HEMT’s / DE MUNARI, Ilaria; F., Fantini; P., Conti. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 35, No. 3:(1995), pp. 631-635. [10.1016/0026-2714(95)93081-K]

Thermal Stability of Al/Ni gate AlGaAs/GaAs HEMT’s

DE MUNARI, Ilaria;
1995-01-01
1995
Thermal Stability of Al/Ni gate AlGaAs/GaAs HEMT’s / DE MUNARI, Ilaria; F., Fantini; P., Conti. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 35, No. 3:(1995), pp. 631-635. [10.1016/0026-2714(95)93081-K]
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