Drawbacks to Using NIST Electromigration Test-Structures to Test Bamboo Metal Lines / DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni; F., Tamarri; D., Govoni; F., Corticelli; F., Fantini. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 41, No. 12:(1994), pp. 2276-2280. [10.1109/16.337439]
Drawbacks to Using NIST Electromigration Test-Structures to Test Bamboo Metal Lines
DE MUNARI, Ilaria;
1994-01-01
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