Activation Energy of the Early Stages of Electromigration in Al-1%/Si/TiN/Ti Bamboo Lines / I. DE MUNARI; A. SCORZONI; F. TAMARRI; F. FANTINI. - (1994), pp. 355-360. ((Intervento presentato al convegno 5th European Symp. on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis tenutosi a Glasgow, Scotland nel 4-7 October.

Activation Energy of the Early Stages of Electromigration in Al-1%/Si/TiN/Ti Bamboo Lines

DE MUNARI, Ilaria;
1994

Activation Energy of the Early Stages of Electromigration in Al-1%/Si/TiN/Ti Bamboo Lines / I. DE MUNARI; A. SCORZONI; F. TAMARRI; F. FANTINI. - (1994), pp. 355-360. ((Intervento presentato al convegno 5th European Symp. on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis tenutosi a Glasgow, Scotland nel 4-7 October.
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