Activation Energy of the Early Stages of Electromigration in Al-1%/Si/TiN/Ti Bamboo Lines / DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni; F., Tamarri; F., Fantini. - (1994), pp. 355-360. (Intervento presentato al convegno 5th European Symp. on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis tenutosi a Glasgow, Scotland nel 4-7 October).
Activation Energy of the Early Stages of Electromigration in Al-1%/Si/TiN/Ti Bamboo Lines
DE MUNARI, Ilaria;
1994-01-01
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