Limitations in NIST Test-Structures When Used for Electromigration Tests of Bamboo Metal Lines / G. L., B., DE MUNARI, I., A., S., F., T., C., C., F., F.. - (1993), pp. 147-151. (4th European Symp. on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis Bordeaux, Arcachon, France 4-7 October).
Limitations in NIST Test-Structures When Used for Electromigration Tests of Bamboo Metal Lines
DE MUNARI, Ilaria;
1993-01-01
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