Limitations in NIST Test-Structures When Used for Electromigration Tests of Bamboo Metal Lines / G. L., Baldini; DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni; F., Tamarri; C., Caprile; F., Fantini. - (1993), pp. 147-151. (Intervento presentato al convegno 4th European Symp. on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis tenutosi a Bordeaux, Arcachon, France nel 4-7 October).
Limitations in NIST Test-Structures When Used for Electromigration Tests of Bamboo Metal Lines
DE MUNARI, Ilaria;
1993-01-01
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