A connection between Raman intensities and EXAFS Debye-Waller factors in amorphous solids / Lottici, Pier Paolo; Rehr, J. J.. - In: SOLID STATE COMMUNICATIONS. - ISSN 0038-1098. - 35:(1980), pp. 565-567. [10.1016/0038-1098(80)90899-6]
A connection between Raman intensities and EXAFS Debye-Waller factors in amorphous solids
LOTTICI, Pier Paolo;
1980-01-01
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