Raman study of Bi4(GexSi1-x)3O12 crystals / Beneventi, P.; Bersani, Danilo; Lottici, Pier Paolo; Kovacs, L.. - In: SOLID STATE COMMUNICATIONS. - ISSN 0038-1098. - 93:(1995), pp. 143-146. [10.1016/0038-1098(94)00743-8]
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