Raman Scattering study of residual strain in GaAs/InP heterostructures / Attolini, G.; Francesio, L.; Franzosi, P.; Pelosi, C.; Gennari, S.; Lottici, Pier Paolo. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - 75:(1994), pp. 4156-4161. [10.1063/1.355997 ]
Raman Scattering study of residual strain in GaAs/InP heterostructures
LOTTICI, Pier Paolo
1994-01-01
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