Raman scattering characterization of strained GaAs/InAs layers grown by MOVPE / Lottici, Pier Paolo; Attolini, G.; Chimenti, E.; Pelosi, C.. - In: SOLID STATE COMMUNICATIONS. - ISSN 0038-1098. - 99:(1996), pp. 537-540. [10.1016/0038-1098(96)00362-6]
Raman scattering characterization of strained GaAs/InAs layers grown by MOVPE
LOTTICI, Pier Paolo;
1996-01-01
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