Raman study of Bi2O3-GeO2-SiO2 system / Beneventi, P; Bersani, Danilo; Lottici, Pier Paolo; Cordioli, F; Montenero, Angelo; Gnappi, G.. - In: VUOTO. - ISSN 0391-3155. - 25:(1996), pp. 66-68.
Raman study of Bi2O3-GeO2-SiO2 system
BERSANI, Danilo;LOTTICI, Pier Paolo;MONTENERO, Angelo;
1996-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.