Modeling of critical electric field within irradiated Si-microstrip detectors / Passeri, D.; Ciampolini, Paolo; Scorzoni, A.; Moscatelli, F.; Bilei, G. M.. - 1:(1999), pp. 33-34. (Intervento presentato al convegno Nuclear Science Symposium, 1999. Conference Record.).

Modeling of critical electric field within irradiated Si-microstrip detectors

CIAMPOLINI, Paolo;
1999-01-01

1999
Modeling of critical electric field within irradiated Si-microstrip detectors / Passeri, D.; Ciampolini, Paolo; Scorzoni, A.; Moscatelli, F.; Bilei, G. M.. - 1:(1999), pp. 33-34. (Intervento presentato al convegno Nuclear Science Symposium, 1999. Conference Record.).
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11381/1450774
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact