Modeling of critical electric field within irradiated Si-microstrip detectors / Passeri, D.; Ciampolini, Paolo; Scorzoni, A.; Moscatelli, F.; Bilei, G. M.. - 1:(1999), pp. 33-34. (Intervento presentato al convegno Nuclear Science Symposium, 1999. Conference Record.).
Modeling of critical electric field within irradiated Si-microstrip detectors
CIAMPOLINI, Paolo;
1999-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.