Comprehensive modeling of bulk-damage effects in silicon radiation detectors / PASSERI D.; CIAMPOLINI P.; BILEI G.M.; MOSCATELLI F.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 48:(2001), pp. 1688-93.

Comprehensive modeling of bulk-damage effects in silicon radiation detectors

CIAMPOLINI, Paolo;
2001

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