Comprehensive modeling of bulk-damage effects in silicon radiation detectors / Passeri, D.; Ciampolini, Paolo; Bilei, G. M.; Moscatelli, F.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 48:(2001), pp. 1688-93.
Comprehensive modeling of bulk-damage effects in silicon radiation detectors
CIAMPOLINI, Paolo;
2001-01-01
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