Comprehensive modeling of bulk-damage effects in silicon radiation detectors / Passeri, D.; Ciampolini, Paolo; Bilei, G. M.; Moscatelli, F.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 48:(2001), pp. 1688-93.

Comprehensive modeling of bulk-damage effects in silicon radiation detectors

CIAMPOLINI, Paolo;
2001-01-01

2001
Comprehensive modeling of bulk-damage effects in silicon radiation detectors / Passeri, D.; Ciampolini, Paolo; Bilei, G. M.; Moscatelli, F.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 48:(2001), pp. 1688-93.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11381/1450763
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 38
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 33
social impact