Verrini, Gianluca
Verrini, Gianluca
Dipartimento di Ingegneria e Architettura
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Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Correlation between OCVD carrier lifetime vs temperature measurements and reverse recovery behavior of the body diode of SiC power MOSFETs | 1-gen-2020 | Sapienza, S.; Sozzi, G.; Santoro, D.; Cova, P.; Delmonte, N.; Verrini, G.; Chiorboli, G. |