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A Laser System for Characterizing CMOS Active Pixel Sensors
2006-01-01 Daniele, Passeri; Marras, Alessandro; Marco, Petasecca; Pisana, Placidi; Leonello, Servoli
Characterization of CMOS Active Pixel Sensor featuring non-epitaxial substrate with different radioacive sources
2006-01-01 L., Servoli; D., Biagetti; G. M., Bilei; Ciampolini, Paolo; Delfanti, Paolo; Marras, Alessandro; Matrella, Guido; D., Passeri; P., Placidi
MAPS with advanced on-pixel processing
2006-01-01 D., Biagetti; G. M., Bilei; Ciampolini, Paolo; Delfanti, Paolo; Marras, Alessandro; Matrella, Guido; D., Passeri; P., Placidi; M., Petasecca; L., Servoli
Reliability Assessment of Multi-Via Cu-Damascene Structures by Wafer-Level Isothermal Electromigration Tests
2007-01-01 Marras, Alessandro; Impronta, M.; DE MUNARI, Ilaria; Valentini, M. G.; Scorzoni, A.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| A Laser System for Characterizing CMOS Active Pixel Sensors | 1-gen-2006 | Daniele, Passeri; Marras, Alessandro; Marco, Petasecca; Pisana, Placidi; Leonello, Servoli | |
| Characterization of CMOS Active Pixel Sensor featuring non-epitaxial substrate with different radioacive sources | 1-gen-2006 | L., Servoli; D., Biagetti; G. M., Bilei; Ciampolini, Paolo; Delfanti, Paolo; Marras, Alessandro; Matrella, Guido; D., Passeri; P., Placidi | |
| MAPS with advanced on-pixel processing | 1-gen-2006 | D., Biagetti; G. M., Bilei; Ciampolini, Paolo; Delfanti, Paolo; Marras, Alessandro; Matrella, Guido; D., Passeri; P., Placidi; M., Petasecca; L., Servoli | |
| Reliability Assessment of Multi-Via Cu-Damascene Structures by Wafer-Level Isothermal Electromigration Tests | 1-gen-2007 | Marras, Alessandro; Impronta, M.; DE MUNARI, Ilaria; Valentini, M. G.; Scorzoni, A. |
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