Erratum: A comparative analysis of substrate current generation mechanisms in tunneling MOS capacitors (IEEE Electron Devices (2002) 49 (1427-1435)) / Palestri, P.; Serra, A. D.; Selmi, L.; Pavesi, M.; Rigolli, P. L.; Abramo, A.; Widdershoven, F.; Sangiorgi, E.. - 49:(2002), pp. 1844-1844.
Erratum: A comparative analysis of substrate current generation mechanisms in tunneling MOS capacitors (IEEE Electron Devices (2002) 49 (1427-1435))
Pavesi M.Membro del Collaboration Group
;
2002-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.