Microelectronics Reliability - SPECIAL ISSUE 23rd EUROPEAN SYMPOSIUM ON THE RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS, Cagliari, Italy, 1–5 October 2012 / G., Meneghesso; M., Ciappa; Cova, Paolo; F., Iannuzzo. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 52:(2012), pp. 1751-2512.

Microelectronics Reliability - SPECIAL ISSUE 23rd EUROPEAN SYMPOSIUM ON THE RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS, Cagliari, Italy, 1–5 October 2012

COVA, Paolo;
2012-01-01

2012
Microelectronics Reliability - SPECIAL ISSUE 23rd EUROPEAN SYMPOSIUM ON THE RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS, Cagliari, Italy, 1–5 October 2012 / G., Meneghesso; M., Ciappa; Cova, Paolo; F., Iannuzzo. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 52:(2012), pp. 1751-2512.
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