Study of bit error and thermal characterization of a Successive Approximation A/D converter / G., Franco; D., Dallet; Chiorboli, Giovanni; P., Marchegay. - (1995), pp. 640-643. (Intervento presentato al convegno IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC95 tenutosi a Boston, Massachusetts nel April 24-26 1995).

Study of bit error and thermal characterization of a Successive Approximation A/D converter

CHIORBOLI, Giovanni;
1995-01-01

1995
0780326156
Study of bit error and thermal characterization of a Successive Approximation A/D converter / G., Franco; D., Dallet; Chiorboli, Giovanni; P., Marchegay. - (1995), pp. 640-643. (Intervento presentato al convegno IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC95 tenutosi a Boston, Massachusetts nel April 24-26 1995).
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