Structural analysis of ferromagnetic latent tracks in RCo2 thin films (R= Y, Tm, Ce) by means of X-ray diffraction, / Ghidini, Massimo; Jp, Nozieres; D., Givord; A., Lienard; B., Gervais; E., Doorhyee; N. U. C. L. I. N. S. T. R. M. E. T. H., B.. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION B, BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS. - ISSN 0168-583X. - 107:(1996), pp. 344-350.
Structural analysis of ferromagnetic latent tracks in RCo2 thin films (R= Y, Tm, Ce) by means of X-ray diffraction,
GHIDINI, Massimo;
1996-01-01
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