Degradation mechanisms in heterostructure devices and their correlations with defect / Fantini, F; Salviati, G; Borgarino, M; Cattani, L; Cova, Paolo; Lazzarini, L; ZANOTTI FREGONARA, C.. - 160:(1997), pp. 503-514. (Intervento presentato al convegno DRIP VII, 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors tenutosi a Templin (Germaniy) nel Sep. 7-10, 1997).

Degradation mechanisms in heterostructure devices and their correlations with defect

COVA, Paolo;
1997-01-01

1997
Degradation mechanisms in heterostructure devices and their correlations with defect / Fantini, F; Salviati, G; Borgarino, M; Cattani, L; Cova, Paolo; Lazzarini, L; ZANOTTI FREGONARA, C.. - 160:(1997), pp. 503-514. (Intervento presentato al convegno DRIP VII, 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors tenutosi a Templin (Germaniy) nel Sep. 7-10, 1997).
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