Passive optical components: from degradation data to reliability assessment – preliminary results / T., Tomasi; DE MUNARI, Ilaria; V., Lista; L., Gherardi; A., Righetti; M., Villa. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 42, No. 9-11:(2002), pp. 1333-1338. [10.1016/S0026-2714(02)00145-2]
Passive optical components: from degradation data to reliability assessment – preliminary results
DE MUNARI, Ilaria;
2002-01-01
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